<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1423</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICOPHYSICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Уменьшение искажений в оптических измерительных системах</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Будаи</surname><given-names>Б. Т.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">buda080316@rambler.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мякутина</surname><given-names>И. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Касаткин</surname><given-names>Н. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Уральский федеральный университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>6</issue><fpage>37</fpage><lpage>40</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1423">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1423</self-uri><abstract><p>Показано, что в оптических измерительных системах погрешности измерений координат объекта во многом зависят от искажений изображений, обусловленных дифракцией объектива. Проведена аналитическая оценка указанных искажений в зависимости от размера объектива, приводящая к уменьшению искажений изображений путем более точного выбора размера объектива и других параметров оптического тракта.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The decrease of image distortion and the blur of images is the main requirement for optical measuring systems. The dependence of the distortions of images from the sizes of the lens determined with high accuracy allowed to reduce the objective size. The application of analytical assessment leads to decrease of image distortions by means of more accurate selection of the lens sizes and other optical circuit parameters.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>оптические измерительные системы</kwd><kwd>размер объектива</kwd><kwd>низкочастотные искажения изображения</kwd><kwd>дифракция</kwd><kwd>эмпирическая и аналитическая оценки</kwd><kwd>optical measuring systems</kwd><kwd>impact resistance</kwd><kwd>lens size</kwd><kwd>image low frequency distortions</kwd><kwd>diffraction</kwd><kwd>empirical and analytical estimates</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Будаи Б. Т. и др. Поиск дефектов в оптико-электронных системах // Дефектоскопия. 2012. № 7. С.45-56.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Будаи Б. Т. и др. Поиск дефектов в оптико-электронных системах // Дефектоскопия. 2012. № 7. С.45-56.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Баклицкий В. К. и др. Методы фильтрации сигналов в корреляционно-экстремальных системах навигации. М.: Радио и связь, 1986.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Баклицкий В. К. и др. Методы фильтрации сигналов в корреляционно-экстремальных системах навигации. М.: Радио и связь, 1986.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Будаи Б. Т., Красовский Н. А. К вопросу о повышении точности измерения координат // Научно-технические ведомости. 2008. № 6. C. 85-91.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Будаи Б. Т., Красовский Н. А. К вопросу о повышении точности измерения координат // Научно-технические ведомости. 2008. № 6. C. 85-91.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Якушенков Ю. Г. Теория и расчет оптико-электронных приборов. М.: Логос, 1999.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Якушенков Ю. Г. Теория и расчет оптико-электронных приборов. М.: Логос, 1999.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Корн Г., Корн Т. Справочник по математике для научных работников. СПб: Лань, 2003.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Корн Г., Корн Т. Справочник по математике для научных работников. СПб: Лань, 2003.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ллойд Дж. Тепловидение / Пер. с англ. под ред. А. И. Горячева: М.: МИР, 1979.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ллойд Дж. Тепловидение / Пер. с англ. под ред. А. И. Горячева: М.: МИР, 1979.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвеев А. Н. Оптика. М: Высшая школа, 1985.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Матвеев А. Н. Оптика. М: Высшая школа, 1985.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кендалл М., Стюард А. Теория распределений. Т. 1. М.: Физматлит, 1966.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кендалл М., Стюард А. Теория распределений. Т. 1. М.: Физматлит, 1966.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мирошников М. М. Теоретические основы оптикоэлектронных приборов. Л.: Машиностроение, 1977.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мирошников М. М. Теоретические основы оптикоэлектронных приборов. Л.: Машиностроение, 1977.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Хадсон Р. Инфракрасные системы. М.: Мир, 1972.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Хадсон Р. Инфракрасные системы. М.: Мир, 1972.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Харкевич А. А. Основы радиотехники. М.: Связьиздат, 1962.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Харкевич А. А. Основы радиотехники. М.: Связьиздат, 1962.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
