izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-1412Research ArticleФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯPHYSICOCHEMICAL MEASUREMENTSИзмерение структурных параметров по эмиссионным рентгеновским спектрам при энергодисперсионной регистрацииГавриленкоВ. П.noemail@neicon.ruЗаблоцкийА. В.noemail@neicon.ruКорнейчукС. А.noemail@neicon.ruКузинА. Ю.noemail@neicon.ruКуприяноваТ. А.noemail@neicon.ruЛяминаО. И.noemail@neicon.ruТодуаП. А.noemail@neicon.ruФилипповМ. Н.fil@igic.ras.ruШкловерВ. Я.noemail@neicon.ruНаучно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуумаRussian FederationМосковский физико-технический институтRussian FederationООО «Системы для микроскопии и анализа»Russian FederationИнститут общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАНRussian Federation201607022023026567Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1412

Показана возможность использования дифракционных пиков, возникающих в эмиссионных рентгеновских спектрах при энергодисперсионной регистрации, для измерений межплоскостных расстояний в кристаллических веществах.

The possibility of using the diffraction peaks appearing in emissive X-ray spectra during energy dispersion registration for measuring the spacing between the lattice planes is shown.

рентгенофлуоресцентный анализэнергодисперсионный спектрометрдифракционные пикиXRF-analysisenergy dispersion spectrometerdiffraction peaksReferencesЗаблоцкий А. В., Вирюс А. А., Лямина О. И., Кузин А. Ю., Куприянова Т. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Составляющие вторичного рентгеновского спектра при полихроматическом возбуждении и энергодисперсионной регистрации // Метрология. 2013. № 4. С. 9-17.Заблоцкий А. В., Вирюс А. А., Лямина О. И., Кузин А. Ю., Куприянова Т. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Составляющие вторичного рентгеновского спектра при полихроматическом возбуждении и энергодисперсионной регистрации // Метрология. 2013. № 4. С. 9-17.Вольдсет Р. Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения. М.: Энергоатомиздат, 1977.Вольдсет Р. Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения. М.: Энергоатомиздат, 1977.Nicolosi J. A., Scruggse B., Hascke M. Analysis of Sub-mm Structure in Large Bulky Samples Using Micro-X-Ray Fluorescent Spectrometry // Adv. X-ray Anal. 1997. V. 41. P. 227-233.Nicolosi J. A., Scruggse B., Hascke M. Analysis of Sub-mm Structure in Large Bulky Samples Using Micro-X-Ray Fluorescent Spectrometry // Adv. X-ray Anal. 1997. V. 41. P. 227-233.Миркин Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961.Миркин Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961.Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Изд-во МИСиС. 1994.Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Изд-во МИСиС. 1994.Чичагов А. В., Белоножко А. Б., Лопатин А. Л., Докина Т. Н., Самохвалова О. Л., Ушаковская Т. В., Шилова З. В. Информационно-вычислительная система по кристаллоструктурным данным минералов (МИНКРИСТ) // Кристаллография. 1990. Т. 35. № 3. С. 610-616.Чичагов А. В., Белоножко А. Б., Лопатин А. Л., Докина Т. Н., Самохвалова О. Л., Ушаковская Т. В., Шилова З. В. Информационно-вычислительная система по кристаллоструктурным данным минералов (МИНКРИСТ) // Кристаллография. 1990. Т. 35. № 3. С. 610-616.Храмов А.С., Лукьянов И.В. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов: Справочник, Ч. IV. Казань: Казанский (Приволжский) федеральный университет, 2010.Храмов А.С., Лукьянов И.В. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов: Справочник, Ч. IV. Казань: Казанский (Приволжский) федеральный университет, 2010.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.