izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-1303Research ArticleРАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯRADIO MEASUREMENTSАнализ метода измерения S -параметров тразнзисторов СВЧРясныйЮ. В.aspirant-208@rambler.ruЧашковМ. С.noemail@neicon.ruБорисовА. В.noemail@neicon.ruСибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, НовосибирскRussian Federation2012070220230106163Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1303

Рассмотрен метод измерения S -параметров транзисторов СВЧ двойным 12-полюсным рефлектометром, состоящий из трех этапов. На каждом этапе формируются системы измерительных и калибровочных уравнений. Предложен метод калибровки рефлектометра, получены выражения для определения отношений волн напряжений генератора, входящих в систему уравнений.

The three stage method of S -parameters measurement of microwave transistors by double 12-pole reflectometer is considered. At each stage the systems of measuring and calibration equations are formed. The reflectometer calibration method is offered the expressions for determination of relationships of generator waves from the system of equations are received.

коэффициент отражения12-полюсный рефлектометризмерениекалибровкатранзистор СВЧreflection coefficient12-pole reflectometermeasurementcalibrationmicrowave transistorReferencesMazumderS. R.,Van der Pulie P. D. Two-Signal Method of Measuring the Large-Signal S-Parameter of Transistors //IEEE Trans. Microwave Theory and Techn. 1978. V. MTT 26. N 6. P. 417–420.MazumderS. R.,Van der Pulie P. D. Two-Signal Method of Measuring the Large-Signal S-Parameter of Transistors //IEEE Trans. Microwave Theory and Techn. 1978. V. MTT 26. N 6. P. 417–420.Торопов Е. Б. Измерение S-параметров транзистора в режиме большого сигнала//Радиотехника. 1981. Т. 36. №10. С. 63–65.Торопов Е. Б. Измерение S-параметров транзистора в режиме большого сигнала//Радиотехника. 1981. Т. 36. №10. С. 63–65.Пат. 2361227 РФ. Способ измерения S-параметров транзисторов СВЧ в линейном режиме / В. А. Севрюков, И. В. Безсудов, Ю. Г. Таций // Изобретения. 1996. № 15.Пат. 2361227 РФ. Способ измерения S-параметров транзисторов СВЧ в линейном режиме / В. А. Севрюков, И. В. Безсудов, Ю. Г. Таций // Изобретения. 1996. № 15.Петров В. П. и др. Анализ методов калибровки 12-полюсного рефлектометра // Измерительная техника. 1985. №С. 40–41;Петров В. П. и др. Анализ методов калибровки 12-полюсного рефлектометра // Измерительная техника. 1985. №С. 40–41;PetrovV. P. е. а.Analysis of methods of 12-pole reflectometer calibration //Measurement Techniques. 1985. V.28. N 10. Р. 878–881.PetrovV. P. е. а.Analysis of methods of 12-pole reflectometer calibration //Measurement Techniques. 1985. V.28. N 10. Р. 878–881.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.