izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-1254Research ArticleК ЮБИЛЕЮ ИНСТИТУТААлгоритм быстрого распознавания измерительных маркеров для бесконтактных измерительных системКоновС. Г.public32@gmail.comХохоликовА. А.noemail@neicon.ruСкворцоваВ. В.noemail@neicon.ruМосковский государственный технологический университет «СТАНКИН»Russian Federation20150702202308911Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1254

Рассмотрен алгоритм распознавания измерительных маркеров различного назначения, применяемых в пространственных информационно-измерительных системах. Приведены примеры для использования алгоритма в системах, основанных на технологии фотограмметрии.

An algorithm for detecting different measuring markers that are used for spatial information-measuring systems is considered. The examples of using the algorithm in systems based on photogrammetry technology are presented.

фотограмметрияпространственная измерительная системаизмерительный маркерсопряженные точкиphotogrammetrythree-dimensional measuring systemmeasuring markerconjugated dotsReferencesГригорьев С. Н., Конов С. Г. Развитие пространственной метрологии для обеспечения контроля сложных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика. 2012. № 12. С. 9-13.Григорьев С. Н., Конов С. Г. Развитие пространственной метрологии для обеспечения контроля сложных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика. 2012. № 12. С. 9-13.Смуров И. Ю. Мовчан И. А., Ядройцев И. А., Окунькова А. А., Конов С. Г., Антоненкова Г. В. Экспериментальное аддитивное прямое производство с помощью лазера // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2012. № 2. С. 48-50.Смуров И. Ю. Мовчан И. А., Ядройцев И. А., Окунькова А. А., Конов С. Г., Антоненкова Г. В. Экспериментальное аддитивное прямое производство с помощью лазера // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2012. № 2. С. 48-50.Телешевский В. И., Жирнов И. В., Дубенская М. А., Конов С. Г. Бесконтактное измерение температуры на поверхности материала INOX 304 L в зоне лазерного воздействия // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2013. № 4 (27). С. 61-64.Телешевский В. И., Жирнов И. В., Дубенская М. А., Конов С. Г. Бесконтактное измерение температуры на поверхности материала INOX 304 L в зоне лазерного воздействия // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2013. № 4 (27). С. 61-64.Досько С. И., Крутов А. В., Конов С. Г., Гришин Д. А., Гололобова А. А. Экспериментальная оценка и сравнительный анализ диссипативных свойств шариковых направляющих качения модульного типа // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2014. № 1 (28). С. 63-70.Досько С. И., Крутов А. В., Конов С. Г., Гришин Д. А., Гололобова А. А. Экспериментальная оценка и сравнительный анализ диссипативных свойств шариковых направляющих качения модульного типа // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2014. № 1 (28). С. 63-70.Марков Б. Н., Конов С. Г., Логинов А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем с использованием генетического алгоритма поиска решения // Измерительная техника. 2012. № 5. С. 44-46.Марков Б. Н., Конов С. Г., Логинов А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем с использованием генетического алгоритма поиска решения // Измерительная техника. 2012. № 5. С. 44-46.Конов С. Г., Гололобова А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем на базе метода наименьших квадратов // Метрология. 2014. № 5. С. 15-20.Конов С. Г., Гололобова А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем на базе метода наименьших квадратов // Метрология. 2014. № 5. С. 15-20.Конов С. Г., Марков Б. Н. Алгоритм коррекции погрешности от перспективных искажений изображений измерительных меток // Метрология. 2011. № 3. С. 8-15.Конов С. Г., Марков Б. Н. Алгоритм коррекции погрешности от перспективных искажений изображений измерительных меток // Метрология. 2011. № 3. С. 8-15.Конов С. Г. Разработка координатно-измерительной машины контактного типа на базе фотограмметрической системы // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2010. № 2. С. 119-121.Конов С. Г. Разработка координатно-измерительной машины контактного типа на базе фотограмметрической системы // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2010. № 2. С. 119-121.Конов С. Г., Логинов А. А., Крутов А. В. Система слежения за пространственными перемещениями подвижных узлов станков и робототехники // Измерительная техника. 2012. № 2. С. 10-12.Конов С. Г., Логинов А. А., Крутов А. В. Система слежения за пространственными перемещениями подвижных узлов станков и робототехники // Измерительная техника. 2012. № 2. С. 10-12.Конов С. Г., Крутов А. В. Разработка системы слежения за пространственными перемещениями объектов на базе технологии фотограмметрии // Метрология. 2013. № 12. С. 10-15.Конов С. Г., Крутов А. В. Разработка системы слежения за пространственными перемещениями объектов на базе технологии фотограмметрии // Метрология. 2013. № 12. С. 10-15.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Роздина Е. М. Повышение точности измерений линейно-угловых размеров изделий в интеллектуальной компьютерной микроскопии // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2011. № 4. С. 35-38.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Роздина Е. М. Повышение точности измерений линейно-угловых размеров изделий в интеллектуальной компьютерной микроскопии // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2011. № 4. С. 35-38.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Есин А. П. Методы повышения точности линейных измерений на измерительных микроскопах с помощью цифровой обработки оптических изображений // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2009. № 1. С. 102-107.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Есин А. П. Методы повышения точности линейных измерений на измерительных микроскопах с помощью цифровой обработки оптических изображений // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2009. № 1. С. 102-107.Телешевский В. И., Глубоков А. В. Компьютеризированная измерительная информационная система для контроля отклонений от плоскостности на базе электронных уровней // Измерительная техника. 2004. № 11. С. 15-18.Телешевский В. И., Глубоков А. В. Компьютеризированная измерительная информационная система для контроля отклонений от плоскостности на базе электронных уровней // Измерительная техника. 2004. № 11. С. 15-18.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.