<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1192</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Электрические параметры делителей напряжения на основе тонкопленочных резисторов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лугин</surname><given-names>А. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">niiemp@rambler.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Научно-исследовательский институт электронно-механических приборов</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2013</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>3</issue><fpage>37</fpage><lpage>40</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1192">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1192</self-uri><abstract><p>Рассмотрены основные электрические схемы и параметры резисторных делителей напряжения и схем отношения, изготовленных по тонкопленочной технологии. Показана взаимосвязь коэффициентов деления и отношения, а также их отклонений.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The basic electrical circuits and parameters of thin-film resistor voltage dividers manufactured according to thin-film technology are considered. The interconnection of coefficients of the division and the relationship and of their deviations is shown.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>тонкопленочная технология</kwd><kwd>набор резисторов</kwd><kwd>делитель напряжения</kwd><kwd>температурные характеристики</kwd><kwd>thin-film resistor</kwd><kwd>resistors set-up</kwd><kwd>voltage divider</kwd><kwd>division and relationship</kwd><kwd>temperature characteristics</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Резисторы: Справочник / Под ред. И. И. Четверткова, В. М. Терехова. М.: Радио и связь, 1991.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Резисторы: Справочник / Под ред. И. И. Четверткова, В. М. Терехова. М.: Радио и связь, 1991.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Крюков М.Высокостабильные тонкопленочные чип-резисторы фирмы Phycomp// Компоненты и технологии.2003. № 4. С.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Крюков М.Высокостабильные тонкопленочные чип-резисторы фирмы Phycomp// Компоненты и технологии.2003. № 4. С.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ОСТ В 11 0658–88. Наборы резисторов. Общие технические условия.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ОСТ В 11 0658–88. Наборы резисторов. Общие технические условия.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 21414–75. Резисторы. Термины и определения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 21414–75. Резисторы. Термины и определения.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ОСТ 11 072.009–81. Наборы резисторов. Основные параметры.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ОСТ 11 072.009–81. Наборы резисторов. Основные параметры.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 21342.20–78. Резисторы. Методы измерения сопротивления.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 21342.20–78. Резисторы. Методы измерения сопротивления.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
