<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1165</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Государственный первичный эталон единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот 1 МГц - 18 ГГц</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Карих</surname><given-names>Н. М.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Матвейчук</surname><given-names>В. Ф.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Серов</surname><given-names>А. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Сибирцев</surname><given-names>С. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Черноусова</surname><given-names>Н. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">director@sniim.nsk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Сибирский государственный  научно-исследовательский институт метрологии, Новосибирск</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2010</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>9</issue><fpage>3</fpage><lpage>7</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1165">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1165</self-uri><abstract><p>Рассмотрены состав и обобщенная структурная схема государственного первичного эталона единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот 1 МГц - 18 ГГц, методы воспроизведения и передачи единиц. Приведены измерительные уравнения для всех эталонных установок и краткий анализ погрешностей воспроизведения единиц.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The structure and the generalized block diagram for relative permittivity and permeability State Primary Standard at frequencies from 1 MHz to 18 GHz, methods of reproduction and transmission of units are considered. The measuring equations for all reference techniques and the summary analysis for errors of reproduction of units are resulted.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>диэлектрическая и магнитная проницаемости</kwd><kwd>первичный эталон</kwd><kwd>измерительные уравнения</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>permittivity</kwd><kwd>permeability</kwd><kwd>primary standard</kwd><kwd>measuring equations</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвейчук В. Ф. и др. Метрологическое обеспечение измерений электромагнитных свойств радиотехнических материалов на ВЧ и СВЧ // Измерительная техника. 2004. № 8. С. 24-29.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Матвейчук В. Ф. и др. Метрологическое обеспечение измерений электромагнитных свойств радиотехнических материалов на ВЧ и СВЧ // Измерительная техника. 2004. № 8. С. 24-29.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвейчук В. Ф. и др. Резонансные методы и средства измерений электромагнитных параметров материалов на сверхвысоких частотах // Актуальные проблемы электронного приборостроения, АПЭП-2004: Труды VII Междунар. конф. Новосибирск. 2004. Т. 3. С. 175 - 182.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Матвейчук В. Ф. и др. Резонансные методы и средства измерений электромагнитных параметров материалов на сверхвысоких частотах // Актуальные проблемы электронного приборостроения, АПЭП-2004: Труды VII Междунар. конф. Новосибирск. 2004. Т. 3. С. 175 - 182.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Yoshio Kobayashi, Masayuki Katon. Microwave measurement of dielectric properties of low-loss materials by the dielectric rod resonator method // IEEE Trans. Microwave theory and techniques. 1985. V. MMT-33. N 7. P. 586 - 592.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yoshio Kobayashi, Masayuki Katon. Microwave measurement of dielectric properties of low-loss materials by the dielectric rod resonator method // IEEE Trans. Microwave theory and techniques. 1985. V. MMT-33. N 7. P. 586 - 592.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвейчук В. Ф. Метод волноводно-диэлектрического резонатора для точного измерения электромагнитных параметров материалов на высоких частотах // Измерительная техника. 1999. № 6. С. 62 - 66.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Матвейчук В. Ф. Метод волноводно-диэлектрического резонатора для точного измерения электромагнитных параметров материалов на высоких частотах // Измерительная техника. 1999. № 6. С. 62 - 66.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвейчук В. Ф., Сибирцев С. Н. Измерения диэлектрической и магнитной проницаемостей материалов на СВЧ методом волноводно-диэлектрических резонансов // Актуальные проблемы электронного приборостроения, АПЭП-2000: Труды V Междунар. конф. Новосибирск. 2000. Т. 6. С. 9 - 12.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Матвейчук В. Ф., Сибирцев С. Н. Измерения диэлектрической и магнитной проницаемостей материалов на СВЧ методом волноводно-диэлектрических резонансов // Актуальные проблемы электронного приборостроения, АПЭП-2000: Труды V Междунар. конф. Новосибирск. 2000. Т. 6. С. 9 - 12.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">МИ 00173-2000. ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь материалов с высокой проницаемостью в диапазоне частот от 0,5 до 18 ГГц. Методика выполнения измерений методом волноводно-диэлектрического резонатора.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">МИ 00173-2000. ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь материалов с высокой проницаемостью в диапазоне частот от 0,5 до 18 ГГц. Методика выполнения измерений методом волноводно-диэлектрического резонатора.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">IEC 61338-1-3. Waveguide type dielectric resonators. Pt. 1-3: General information and test conditions - Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at microwave frequency. - 1999.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">IEC 61338-1-3. Waveguide type dielectric resonators. Pt. 1-3: General information and test conditions - Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at microwave frequency. - 1999.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">IEC 60377-2. Методы определения диэлектрических свойств электроизоляционных материалов на частотах выше 300 МГц. Часть 2. Резонансные методы.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">IEC 60377-2. Методы определения диэлектрических свойств электроизоляционных материалов на частотах выше 300 МГц. Часть 2. Резонансные методы.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">«Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement» published by the International Organisation for Standardisation (ISO), Geneva (Switzerland): ISBN 92-67-10188-9, 1993.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">«Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement» published by the International Organisation for Standardisation (ISO), Geneva (Switzerland): ISBN 92-67-10188-9, 1993.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">МИ 2083-90. ГСИ. Измерения косвенные. Определение результатов измерений и оценивание их погрешностей.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">МИ 2083-90. ГСИ. Измерения косвенные. Определение результатов измерений и оценивание их погрешностей.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 8.381-80. ГСИ. Эталоны. Способы выражения погрешностей.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 8.381-80. ГСИ. Эталоны. Способы выражения погрешностей.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">РМГ 43-2001. ГСИ. Применение «Руководства по выражению неопределенности измерений».</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">РМГ 43-2001. ГСИ. Применение «Руководства по выражению неопределенности измерений».</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
