izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-1087Research ArticleРАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯRADIO MEASUREMENTSМетодика определения эффективнойразрядности аналого-цифровых преобразователейНечаевЛ. В.noemail@neicon.ruЮрчикЕ. Ф.noemail@neicon.ruРФЯЦ-ВНИИТФ им. акад. Е. И. Забабахина, СнежинскRussian Federation201307022023053538Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1087

Описана методика экспериментального определения динамической погрешности аналого-цифровых преобразователей произвольного типаcфизической разрядностью от 4 до 14.

This article describes the experimental determination method of dynamic error for analog-to-digital converters with the physical resolutions from 4 to 14

аналого-цифровой преобразовательпреобразование Фурьеanalog-to-digital converterFourier transformReferencesIEEEStd 1241-2000.IEEE Standard for terminology and test methods for analog-to-digital converters.IEEEStd 1241-2000.IEEE Standard for terminology and test methods for analog-to-digital converters.Галицкий М. В. Эффективная разрядность как динамическая метрологическая характеристика аналого-цифровых средств измерений // Методы и средства физических измерений: Сб.докл. науч.-техн.конф. ВНИИА им. Н. Л. Духова (НПЦ ИТ). М.,2011. С. 16–22.Галицкий М. В. Эффективная разрядность как динамическая метрологическая характеристика аналого-цифровых средств измерений // Методы и средства физических измерений: Сб.докл. науч.-техн.конф. ВНИИА им. Н. Л. Духова (НПЦ ИТ). М.,2011. С. 16–22.Трактовка эффективной разрядности при проведении измерений с помощью осциллографа. Техн. обзор Tektronix, 2008.[Электрон.ресурс]. http://www.tek.com/sites/tek.com/files/media/document/resources/4HW-19448-1.pdf; http://kurskelectronic.ru/library/files/making-sense-of-effective-bits.pdf (дата обращения 03.09.2012 г.)Трактовка эффективной разрядности при проведении измерений с помощью осциллографа. Техн. обзор Tektronix, 2008.[Электрон.ресурс]. http://www.tek.com/sites/tek.com/files/media/document/resources/4HW-19448-1.pdf; http://kurskelectronic.ru/library/files/making-sense-of-effective-bits.pdf (дата обращения 03.09.2012 г.)Оппенгейм А. В., Шафер Р. В. Цифровая обработка сигналов / Пер. с англ; под ред. С. Я. Шаца. М.: Связь, 1979.Оппенгейм А. В., Шафер Р. В. Цифровая обработка сигналов / Пер. с англ; под ред. С. Я. Шаца. М.: Связь, 1979.Сергиенко А. Б. Цифровая обработка сигналов. СПб.: Питер, 2003.Сергиенко А. Б. Цифровая обработка сигналов. СПб.: Питер, 2003.Harris F. J. On the use of windows for harmonic analysis with the Discrete Fourier Transform // Proc. IEEE. 1978. V. 66. N 1. P. 51–83.Harris F. J. On the use of windows for harmonic analysis with the Discrete Fourier Transform // Proc. IEEE. 1978. V. 66. N 1. P. 51–83.Nutall A. H. Some windows with very good sidelobe behavior// IEEE Trans. acoustic, speech, and signal processing. 1981. V. ASSP-29. N 1.P. 84–91.Nutall A. H. Some windows with very good sidelobe behavior// IEEE Trans. acoustic, speech, and signal processing. 1981. V. ASSP-29. N 1.P. 84–91.Brannon B., Reeder R. Understanding High Speed ADC Testing and Evaluation. Analog Devices Inc. Appl. Note AN-835.2006. [Электрон.ресурс]. http://www.analog.com/static/imported-files/application_notes/AN-835.pdf (дата обращения 03.09.2012 г.).Brannon B., Reeder R. Understanding High Speed ADC Testing and Evaluation. Analog Devices Inc. Appl. Note AN-835.2006. [Электрон.ресурс]. http://www.analog.com/static/imported-files/application_notes/AN-835.pdf (дата обращения 03.09.2012 г.).Lecroy[Офиц. сайт].http://lecroy.ru/oscilloscope (дата обращения 03.09.2012 г.).Lecroy[Офиц. сайт].http://lecroy.ru/oscilloscope (дата обращения 03.09.2012 г.).OWON[Офиц. сайт].http://www.owon.com.hk/products2-en.asp (дата обращения 03.09.2012 г.).OWON[Офиц. сайт].http://www.owon.com.hk/products2-en.asp (дата обращения 03.09.2012 г.).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.