izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-1050Research ArticleНАНОМЕТРОЛОГИЯПрименение резонансно-туннельного метода измерений концентрации фуллеренов в кремнийорганических композитахБаршутинаМ. Н.barshutina.marie@yandex.ruБаршутинС. Н.noemail@neicon.ruУшаковА. В.noemail@neicon.ruТамбовский государственный технический университетRussian Federation201607022023063639Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1050

Проведена оценка эффективности низкотемпературного резонансно-туннельного метода измерений концентрации фуллеренов в кремнийорганических композитах на основе моделей прыжковой проводимости Пула-Френкеля и туннельной эмиссии Фаулера-Нордгейма. Высокая точность достигнута в результате туннельно-эмиссионного типа проводимости в кремнийорганических полимерах при низких температурах 77 - 180 К.

This work is devoted to the effectiveness evaluation of the low-temperature resonant tunneling method for measuring the concentration of fullerenes in the silicone composites. During the research, it has been proved that the application of the low-temperature resonant tunneling method allows to obtain results of a high accuracy due to the prevalence of tunnel-emission-type conductivity of silicone polymers at low 77-180K temperatures. The Poole-Frenkel hopping conduction and the Fowler-Nordheim tunnel emission models were used for analysis.

концентрация наночастицфуллереныкремнийорганические композитырезонансное туннелированиеnanoparticle concentrationfullerenessilicone compositesresonant tunneling phenomenonPoole-Frenkel hopping conduction modelFowler-Nordheim tunnel emission modelReferencesУшаков А. В., Баршутина М. Н., Баршутин С. Н. Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров // Измерительная техника. 2014. № 9. С.16-20.Ушаков А. В., Баршутина М. Н., Баршутин С. Н. Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров // Измерительная техника. 2014. № 9. С.16-20.Епифановский И. С., Пономарев А. Н., Донской А. А., Каширин С. В. Модификация свойств полимерных материалов малыми концентрациями фуллероидов // Перспективные материалы. 2006. №2. С. 15-18.Епифановский И. С., Пономарев А. Н., Донской А. А., Каширин С. В. Модификация свойств полимерных материалов малыми концентрациями фуллероидов // Перспективные материалы. 2006. №2. С. 15-18.Абдуллаев Х. М., Шаимов Э. Д., Табаров Ф. С. Ик-спектроскопическое исследование спектров поглощения исходных и фуллеренсодержащих плёнок полиметилметакрилата, полученных из растворов в Толуоле, бромбензоле и ортоксилоле // Докл. Академии Наук Республики Таджикистан. 2013. Т. 56. № 3. С. 209-214.Абдуллаев Х. М., Шаимов Э. Д., Табаров Ф. С. Ик-спектроскопическое исследование спектров поглощения исходных и фуллеренсодержащих плёнок полиметилметакрилата, полученных из растворов в Толуоле, бромбензоле и ортоксилоле // Докл. Академии Наук Республики Таджикистан. 2013. Т. 56. № 3. С. 209-214.Пат. 222976 РФ. Композиция для изготовления искусственного хрусталика глаза / В. Н. Мяков, Т. В. Махрова, М. А. Лопатин // Изобретения. Полезные модели. 2004.Пат. 222976 РФ. Композиция для изготовления искусственного хрусталика глаза / В. Н. Мяков, Т. В. Махрова, М. А. Лопатин // Изобретения. Полезные модели. 2004.Кукуев В. И., Миттова И. Я., Домашевская Э. П., Физические методы исследования тонких пленок и поверхностных слоев: Учеб. пособие. Воронеж; Изд-во ВГУ, 2001.Кукуев В. И., Миттова И. Я., Домашевская Э. П., Физические методы исследования тонких пленок и поверхностных слоев: Учеб. пособие. Воронеж; Изд-во ВГУ, 2001.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.