<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1033</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICOPHYSICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Лазерная рефракционная термометрия прозрачных твёрдых тел при неоднородном нагреве</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Расковская</surname><given-names>И. Л.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ринкевичюс</surname><given-names>Б. С.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">rinkevbs@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Толкачёв</surname><given-names>А. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Национальный исследовательский университет «МЭИ»</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2016</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>10</issue><fpage>42</fpage><lpage>44</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1033">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1033</self-uri><abstract><p>Разработан и реализован метод восстановления распределения температуры с двумерным градиентом в прозрачном твёрдом теле, основанный на рефракционных изображениях структурированного лазерного излучения. Исследованы зависимости характерной толщины неоднородного приповерхностного слоя образца из оргстекла, а также его температуры от времени при нагреве и остывании.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A method has been developed and implemented for restoring a two-dimensional distribution of temperature in transparent solids, by refractive laser structured images. Dependence of typical thickness of nonhomogeneous surface layer of a plexiglas sample and dependence of its temperature on the time of heating and cooling are investigated.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>лазерная рефракционная термометрия</kwd><kwd>лазерный пучок</kwd><kwd>рефракция</kwd><kwd>лазерная рефрактограмма</kwd><kwd>структурированное лазерное излучение</kwd><kwd>оптически неоднородный слой</kwd><kwd>laser refractive thermometry</kwd><kwd>laser beam</kwd><kwd>refraction</kwd><kwd>laser refractogram</kwd><kwd>structured laser light</kwd><kwd>optically nonhomogeneous layer</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Информационный портал о датчиках температуры [Электрон. ресурс] URL: http://temperatures.ru (дата обращения 15.10.2015)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Информационный портал о датчиках температуры [Электрон. ресурс] URL: http://temperatures.ru (дата обращения 15.10.2015)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ионов А. Б. Метрологические проблемы пирометрии: анализ и перспективы преодоления // Измерительная техника. 2013. № 6. С. 42-45.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ионов А. Б. Метрологические проблемы пирометрии: анализ и перспективы преодоления // Измерительная техника. 2013. № 6. С. 42-45.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ходунков В. П., Походун А. И. Определение действительной температуры объекта при тепловизионных измерениях // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 42-45.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ходунков В. П., Походун А. И. Определение действительной температуры объекта при тепловизионных измерениях // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 42-45.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кац М. Д. Выбор размеров образцов при определении теплофизических характеристик материалов методом лазерного импульса // Измерительная техника. 2014. № 8. С. 41-44.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кац М. Д. Выбор размеров образцов при определении теплофизических характеристик материалов методом лазерного импульса // Измерительная техника. 2014. № 8. С. 41-44.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ринкевичюс Б.С., Есин М. В., Расковская И. Л., Толкачев А. В. Система визуализации и измерения параметров физических процессов в жидкой среде // Патент на полезную модель. RUS 105433 30/11/2010.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ринкевичюс Б.С., Есин М. В., Расковская И. Л., Толкачев А. В. Система визуализации и измерения параметров физических процессов в жидкой среде // Патент на полезную модель. RUS 105433 30/11/2010.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Расковская И.Л., Ринкевичюс Б.С., Толкачев А.В. Диагностика конвективных процессов в пограничном слое жидкости методом лазерной рефрактографии // Инженерно-физический журнал. 2010. Т. 83. № 6. С. 1149-1156.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Расковская И.Л., Ринкевичюс Б.С., Толкачев А.В. Диагностика конвективных процессов в пограничном слое жидкости методом лазерной рефрактографии // Инженерно-физический журнал. 2010. Т. 83. № 6. С. 1149-1156.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сойфер В. Е. Дифракционная компьютерная оптика и фотоника. М.: Физматлит, 2014.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сойфер В. Е. Дифракционная компьютерная оптика и фотоника. М.: Физматлит, 2014.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Norihisa Tanio and Teruaki Nakanishi. Physical Aging and Refractive Index of Poly(methyl methacrylate) Glass // Polimer Journal. 2006. V. 38. No. 8. P. 814-818.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Norihisa Tanio and Teruaki Nakanishi. Physical Aging and Refractive Index of Poly(methyl methacrylate) Glass // Polimer Journal. 2006. V. 38. No. 8. P. 814-818.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Нгуен В. Т., Расковская И. Л., Ринкевичюс Б. С. Применение лазерных интерференционных методов для диагностики акустического поля // Измерительная техника. 2008. № 1. С. 55-59.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Нгуен В. Т., Расковская И. Л., Ринкевичюс Б. С. Применение лазерных интерференционных методов для диагностики акустического поля // Измерительная техника. 2008. № 1. С. 55-59.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Расковская И. Л. Структурированные пучки в задачах лазерной рефрактографии // Радиотехника и электроника. 2009. Т. 54. № 12. С. 1524-1531.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Расковская И. Л. Структурированные пучки в задачах лазерной рефрактографии // Радиотехника и электроника. 2009. Т. 54. № 12. С. 1524-1531.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Расковская И. Л. Лазерная рефракционная томография фазовых объектов // Квантовая электроника. 2013. Т. 43. № 6. С. 554-562.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Расковская И. Л. Лазерная рефракционная томография фазовых объектов // Квантовая электроника. 2013. Т. 43. № 6. С. 554-562.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Расковская И.Л. Рефракционный метод диагностики двумерно-неоднородных сред // Радиотехника и электроника, 2013, Т.58, №1, С.38-43.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Расковская И.Л. Рефракционный метод диагностики двумерно-неоднородных сред // Радиотехника и электроника, 2013, Т.58, №1, С.38-43.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
