<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1015</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICOPHYSICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Экспериментальное исследование метрологических характеристик автоматизированной интерферометрической системы измерения формы поверхности диффузно отражающих объектов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Майоров</surname><given-names>Е. Е.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">majorov_ee@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Прокопенко</surname><given-names>В. Т.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Машек</surname><given-names>А. Ч.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Цыганкова</surname><given-names>Г. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Курлов</surname><given-names>А. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-4"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Хохлова</surname><given-names>М. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-5"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кирик</surname><given-names>Д. И.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-6"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Капралов</surname><given-names>Д. Д.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-6"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Санкт-Петербургский университет технологий управления и экономики</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>Военно-морской политехнический институт</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-4"><institution>Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-5"><institution>Военно-космическая академия им. А. Ф. Можайского</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-6"><institution>Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М. А. Бонч-Бруевича</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>10</issue><fpage>33</fpage><lpage>37</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1015">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1015</self-uri><abstract><p>Экспериментально исследованы метрологические характеристики автоматизированной интерферометрической системы измерения формы поверхности диффузно отражающих объектов. Изучены изменения амплитуды выходного сигнала при модуляции оптической разности хода и выполнена визуализация влияния вносимых помех на погрешность измерений. Установлено, что при увеличении угла падения оптического излучения увеличиваются длительность интерференционного сигнала и, соответственно, погрешность измерений АИС. Получена зависимость диапазона измерений от частоты сканирования опорного зеркала. Погрешность измерений АИС при нормальном освещении не превышает 0,67 мкм.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The automated interferometric system, which today is relevant in addressing issues of controlling the shape of diffusely reflecting objects in various fields of science and technology is presented. Experimental research of the metrological characteristics of the system: the amplitude of the information signal, measurement range and measurement error was performed. The results of change of the output signal amplitude at modulation of the optical path difference, which allows you to visualize the effect of introduced noise on the measurement error, when the angle of incidence increases, increase the increasing of duration of the interference signal leads to increased measurement errors were obtained. The dependence of the measurement range of the frequency scanning of the reference mirror is received. Normal light measurement error does not exceed 0,67 µm is revealed.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>интерферометр</kwd><kwd>частично-когерентный источник</kwd><kwd>длина когерентности</kwd><kwd>диффузно отражающий объект</kwd><kwd>декорреляция спекл-поля</kwd><kwd>контраст интерференционного поля</kwd><kwd>дифракционная решётка</kwd><kwd>interferometer</kwd><kwd>the partially coherent source</kwd><kwd>the coherence length</kwd><kwd>diffusely reflecting object</kwd><kwd>decorrelate speckle field</kwd><kwd>the contrast of the interference field</kwd><kwd>diffraction grating</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pat. 6195168 USA. Infrared scanning interferometry apparatus and method / De Lega, 2001.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pat. 6195168 USA. Infrared scanning interferometry apparatus and method / De Lega, 2001.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hausler G., Lindner M.W. Coherence radar and spectral radar - new tools for dermatological diagnosis // F. Biomed. Opt. 1998. V. 3. No. 1. P. 21-31.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hausler G., Lindner M.W. Coherence radar and spectral radar - new tools for dermatological diagnosis // F. Biomed. Opt. 1998. V. 3. No. 1. P. 21-31.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gu F., Hung Y., Chen F. Iteration algorithm for computer-aided speckle interferometry // Appl. Opt. 1994. V. 33. No. 23. P. 5308-5317.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gu F., Hung Y., Chen F. Iteration algorithm for computer-aided speckle interferometry // Appl. Opt. 1994. V. 33. No. 23. P. 5308-5317.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gurov I. P., Gang L. Automatic inspection of non-smoth surface displacements by interferometer with low-coherent illumination // Proc. SPIE. 1996. V. 2899. P. 230-239.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gurov I. P., Gang L. Automatic inspection of non-smoth surface displacements by interferometer with low-coherent illumination // Proc. SPIE. 1996. V. 2899. P. 230-239.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики. М.: Наука, 1970.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики. М.: Наука, 1970.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. А. Афанасьев. Оптические измерения. М.: Недра, 1968.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. А. Афанасьев. Оптические измерения. М.: Недра, 1968.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Д. Малакара. Оптический производственный контроль / Пер. с англ. под ред. А.Н. Соснова. М.: Машиностроение, 1985.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Д. Малакара. Оптический производственный контроль / Пер. с англ. под ред. А.Н. Соснова. М.: Машиностроение, 1985.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">М. Франсон. Оптика спеклов / Пер. с франц. под ред. проф. Ю. И. Островского. М.: Мир, 1980.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">М. Франсон. Оптика спеклов / Пер. с франц. под ред. проф. Ю. И. Островского. М.: Мир, 1980.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Majorov E. E., Prokopenko V. T. A limited-coherence interferometer system for examination of biological objects // Biomed. Eng. 2012. V. 46. No. 3. P. 109-111.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Majorov E. E., Prokopenko V. T. A limited-coherence interferometer system for examination of biological objects // Biomed. Eng. 2012. V. 46. No. 3. P. 109-111.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Майоров Е. Е., Прокопенко В. Т. Исследование влияния спекл-структуры на формирование интерференционного сигнала и погрешность измерений // Научное приборостроение. 2013. Т. 23. № 2. С. 38-46.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Майоров Е. Е., Прокопенко В. Т. Исследование влияния спекл-структуры на формирование интерференционного сигнала и погрешность измерений // Научное приборостроение. 2013. Т. 23. № 2. С. 38-46.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Майоров Е. Е. Метод устранения влияния декорреляции спекл-полей на точность измерений и динамический диапазон интерференционного сигнала // Научное обозрение. 2013. № 9. С. 329-332.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Майоров Е. Е. Метод устранения влияния декорреляции спекл-полей на точность измерений и динамический диапазон интерференционного сигнала // Научное обозрение. 2013. № 9. С. 329-332.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Майоров Е. Е., Машек А. Ч., Удахина С. В., Цыганкова Г. А., Хайдаров Г. Г., Черняк Т. А. Алгоритмы обработки информационного сигнала компьютерной интерференционной системы контроля негладких поверхностей // Научное приборостроение. 2015. Т. 25. № 4. С. 61-66.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Майоров Е. Е., Машек А. Ч., Удахина С. В., Цыганкова Г. А., Хайдаров Г. Г., Черняк Т. А. Алгоритмы обработки информационного сигнала компьютерной интерференционной системы контроля негладких поверхностей // Научное приборостроение. 2015. Т. 25. № 4. С. 61-66.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Майоров Е. Е., Прокопенко В. Т., Машек А. Ч., Удахина С. В., Цыганкова Г. А., Хайдаров А. Г., Черняк Т. А. Оптико-электронный прибор для контроля геометрических параметров диффузно отражающих объектов // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2016. Т. 59. № 5. С. 388-394.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Майоров Е. Е., Прокопенко В. Т., Машек А. Ч., Удахина С. В., Цыганкова Г. А., Хайдаров А. Г., Черняк Т. А. Оптико-электронный прибор для контроля геометрических параметров диффузно отражающих объектов // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2016. Т. 59. № 5. С. 388-394.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
