<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1006</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>RYMMA.SERGIYENKO@METROLOGY.KHARKOV.UA</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Новый алгоритм моделирования видеосигнала в измерительном сканирующем электронном микроскопе</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гагарина</surname><given-names>Л. Г.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Никитин</surname><given-names>А. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">nikitin.arkady2015@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Национальный исследовательский университет МИЭТ</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Институт искусств и информационных технологий</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2016</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>65</fpage><lpage>68</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1006">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1006</self-uri><abstract><p>Изложены основные представления о физических процессах формирования видеосигнала в сканирующем электронном микроскопе. Построен новый библиотечный алгоритм моделирования видеосигнала. Опробование алгоритма показало его приемлемую точность, детальное соответствие модельных видеосигналов их экспериментальным аналогам. Расчет модельного видеосигнала в 500 точках занимает не более 1 с, что во много тысяч раз быстрее, чем по методу Монте-Карло.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The main ideas about physical processes of video signal formation in scanning microscope SEM are shortly described. On these ideas and corresponding quantitative expressions (the analytical model) is built a new “library” algorithm of video signal modeling in SEM. The testing of given algorithm shows its acceptable accuracy, the detailed conformity of model video signals to their experimental analogues. The unsurpassed high productivity is achieved: less than one second is spent on calculation of model video signal consisting of 2.5 thousand points using the ordinary PC! It is many thousands times faster than the modelling by using the widely spread Monte Carlo method.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>моделирование видеосигнала</kwd><kwd>аналитическая модель</kwd><kwd>библиотечный алгоритм</kwd><kwd>video signal modelling</kwd><kwd>analytical model</kwd><kwd>library algorithm</kwd><kwd>unsurpassed productivity</kwd><kwd>video signal modelling</kwd><kwd>analytical model</kwd><kwd>library algorithm</kwd><kwd>unsurpassed productivity</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Никитин А. В. Использование математического моделирования для измерений нано-размеров в микроэлектронике // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 25-29.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Никитин А. В. Использование математического моделирования для измерений нано-размеров в микроэлектронике // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 25-29.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Никитин А. В. Проблемы измерений размеров в микроэлектронной технологии // Измерительная техника. 2012. № 8. С. 15-20.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Никитин А. В. Проблемы измерений размеров в микроэлектронной технологии // Измерительная техника. 2012. № 8. С. 15-20.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Newbury D. E., Joy D. C., Echlin P., Fiory C. E., Goldstein J. I. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis // N.Y., London: Plenum press, 1987.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Newbury D. E., Joy D. C., Echlin P., Fiory C. E., Goldstein J. I. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis // N.Y., London: Plenum press, 1987.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Амосов Р. М., Кузнецова В. В., Никитин А. В. Характеристики потока вторичных электронов, формирующих видеосигнал в РЭМ // Электронная техника. Микроэлектроника. 1982. Вып. 5-6. С. 43-49.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Амосов Р. М., Кузнецова В. В., Никитин А. В. Характеристики потока вторичных электронов, формирующих видеосигнал в РЭМ // Электронная техника. Микроэлектроника. 1982. Вып. 5-6. С. 43-49.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Никитин А. В. Моделирование процессов получения и контроля микроизображений в микроэлектронике: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. докт. физ.-мат. наук. М., 1992.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Никитин А. В. Моделирование процессов получения и контроля микроизображений в микроэлектронике: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. докт. физ.-мат. наук. М., 1992.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Babin S., Borisov S., Ivanchikov A. Monte-Carlo modeling of SEM using CHARIOT software and opportunity for calibration of linewidth metrology // Scanning. 2007. V. 29. N. 2. P. 80-84.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Babin S., Borisov S., Ivanchikov A. Monte-Carlo modeling of SEM using CHARIOT software and opportunity for calibration of linewidth metrology // Scanning. 2007. V. 29. N. 2. P. 80-84.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lowney J. R. Application of Monte Carlo to simulations to critical dimension metrology in a scanning e lectron microscope // Scanning Microscopy. 1996. N. 10(3). P. 667-678.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lowney J. R. Application of Monte Carlo to simulations to critical dimension metrology in a scanning e lectron microscope // Scanning Microscopy. 1996. N. 10(3). P. 667-678.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lowney J. R. MONSEL II: Monte Carlo simulation of SEM signals for linewidth metrology // Microbeam Anal. 1995. N. 4. P. 131-136.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lowney J. R. MONSEL II: Monte Carlo simulation of SEM signals for linewidth metrology // Microbeam Anal. 1995. N. 4. P. 131-136.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бахвалов Н.С., Жидков Н П, Кобельков Г. М. Численные методы. М.: Бином, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бахвалов Н.С., Жидков Н П, Кобельков Г. М. Численные методы. М.: Бином, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
